Phenom ProMikroskop Elektron Profesional Resolusi Tinggiadalah produk canggih dalam siri nanoskop Flyer, generasi kelima Phenom Pro peningkatan pembesaran ganda kepada 150,000 kali, resolusi lebih baik daripada 8 nm, 30 saat dengan cepat mendapatkan imej berkualiti tinggi yang kaya dengan butiran permukaan, adalah elektroskop imbasan desktop resolusi tinggi di dunia yang kini boleh digunakan untuk mengukur sampel dalam skala submikron atau nanometer; Phenom Pro dengan resolusi tinggi Flyner mewarisi kelebihan-kelebihan seperti resolusi tinggi siri Flyner, vakum 15 saat yang cepat, penglihatan tanpa emas, operasi sepenuhnya automatik, penggantian wayar lampu 2-3 tahun dan reka bentuk tahan gempa. Klik ciri-ciri elektroskop untuk mengetahui lebih lanjut.
Phenom ProMikroskop Elektron Profesional Resolusi TinggiTerdapat pelbagai pilihan lanjutan seperti 3D Roughness Reconstruction, FiberMetric, PoreMetric, ParticleMetric, Auto Image Mapping, dan banyak lagi. Perisian ini boleh mengumpul data secara automatik dan memproses imej. Sebagai contoh, sistem pengukuran statistik serat boleh mengenal pasti dan mengukur sampel serat secara automatik, manakala teka-teki bidang pandangan besar secara automatik mengumpul gambar panorama sampel dengan resolusi tinggi dan bidang pandangan besar, dan sebagainya.
Selain itu, terdapat pelbagai cawan sampel untuk dipilih yang menjadikan muatan sampel lebih mudah. Sama ada untuk sampel poros panjang, bahan biologi, atau jenis bahan lain, sentiasa ada cawan sampel yang sesuai untuk menyediakan penyelesaian *.
Phenom Pro
| Phenom Pro | Phenom ProX | Phenom XL | |
| Pembesaran optik | 20 - 135 X | 20 - 135 X | 3 - 16 X |
| Pembesaran optik elektronik | 80 - 150,000 X | 80 - 150,000 X | 80 - 100,000 X |
| Resolusi | Lebih daripada 8 nm | Lebih daripada 8 nm | Lebih daripada 14 nm |
| Pembesaran Digital | Maksimum 12 X | Maksimum 12 X | Maksimum 12 X |
| Kamera navigasi optik | Warna | Warna | Warna |
| Voltan dipercepatkan | 5 Kv - 15 Kv boleh laras secara berterusan | 5 Kv - 15 Kv boleh laras secara berterusan | 5 Kv - 20 Kv boleh laras secara berterusan |
| Mod vakum | Mod resolusi tinggi | Mod resolusi tinggi | Mod resolusi tinggi |
| Mengurangkan mod kesan muatan | Mengurangkan mod kesan muatan | Mengurangkan mod kesan muatan | |
| 高真空模式 | |||
| Pengesan | pengesan elektronik penyebaran belakang | pengesan elektronik penyebaran belakang | pengesan elektronik penyebaran belakang |
| Pengesan Elektron Kedua (Pilihan) | Pengesan Elektron Kedua (Pilihan) | Pengesan Elektron Kedua (Pilihan) | |
| Saiz sampel | Diameter besar 32 mm (Ø) | Diameter besar 32 mm (Ø) | Ukuran 100 mm x 100 mm |
| Boleh memuat 36 sampel 0.5 inci secara serentak | |||
| Tinggi sampel | Tinggi 100 mm | Tinggi 100 mm | Tinggi 65 mm |
